Microscopia de Fuerza Atómica: Implementación y Proyecciones en la UAysén.pdf
2 Oct 202302/10/23 a las 11:05 hrs.2023-10-02 11:05:02 por 
Felipe Aguilar
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| Descripción | La Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) corresponde a una técnica de medición de sonda local cuyo principio de funcionamiento es mecánico, permite generar imágenes superficiales con una resolución de 2 a 3 órdenes de magnitud mejores que la microscopia óptica tradicional, limitada por la difracción. Adicionalmente, la técnica permite hacer caracterizaciones mecánicas a nanoescala, permitiendo obtener parámetros como el módulo de Young, propiedades viscoelásticas o algunas características electromagnéticas como caracterización de dominios magnéticos o potenciales eléctricos locales como función trabajo, entre otros, todo a una escala nanométrica y altamente localizada. En vista que este año se implementó un equipo de esta naturaleza en la Universidad de Aysén, se hará una breve presentación de las capacidades del instrumento adquirido, con imágenes de algunos ensayos de prueba obtenidos recientemente. Además se discutirá el principio básico de funcionamiento con sus ventajas y limitaciones, con el objetivo de estimular líneas de colaboración dentro de la Universidad. |
|---|---|
| Categoría | Departamentos de Ciencias Naturales y Tecnología |
| Año | 2023 |
| Autor | Felipe Aguilar |
| Última Modificación | 2 Oct 202302/10/23 a las 11:05 hrs.2023-10-02 11:05:02 |
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